SESSAME Seminar

～最新の組込みテスト技術を学ぼう～
第1回（全4回開催予定）のご案内

終了しました。

最終更新日: 2015年2月6日

東京大学　VLSI設計教育研究センター (VDEC)で研究をされている藤田昌宏先生をお迎えし、組込みソフトウェア技術者を対象とした組込みCプログラムの試験に関する講座を開催することになりました。

テーマは、新しいプログラムテスト技術です。

組込みソフトウェアの領域では、MCDCカバレッジを好例として従来から半導体の開発技術をプログラムテストに応用してきました。藤田先生は、VLSIのテスト技術の延長として組込みソフトウェアのテスト技術を研究されています。今回、形式検証やHW/SW協調テストなど、今後の組込みソフトウェアに必要となる先端のテスト技術を学ぶよい機会となることでしょう。

【講義プラン】
2015年に4回の講義を計画しています。
最先端の組込みソフトウェアテスト技術の中から、テーマを選んで講義いただく予定です。
初回となる今回は，DART(*)技術の解説をテーマとします。プログラマが確信を持って、この経路は通らないと考えているプログラムの実行経路を通るようなテストケースを、形式検証で用いられる「ソルバー」と呼ばれる技術を利用して自動生成する技術がDARTです。

組込みソフトウェアでは、レビュー、インスペクション、静的テストといったコード上でのテストと、ターゲットを実際に動作させてテストする動的テストの両モードでテストすることが一般的です。DARTは、動と静のモードミックスなテストを自動で実行するものです。

　(*)DART:Directed Automated Random Testing

SESSAME セミナー開催要項
主　催	組込みソフトウェア管理者・技術者研究会（SESSAME）
日　時	2015年02月06日(金）13:00～17:00
場　所	株式会社東陽テクニカテクノロジーインターフェースセンターセミナー室　　　〒103-0021　東京都中央区日本橋本石町1-1-2 　　　http://www.toyo.co.jp/spirent/access.html
講　師	・東京大学大規模集積システム設計教育研究センター　教授　藤田昌宏氏
定　員	40名
参加費	第1回の受講料は30,000円(資料代、消費税込)です。
申し込み	こちらの申し込みフォーマットを切り取り、Eメールにてお申し込みください。
備　考	・お申し込みはメールにて先着順にお受けいたします。・お申し込み頂きますと、折り返し『参加案内、請求書』をお送りいたします。・請求書にしたがって銀行振込をお願いいたします。振込手数料は貴社にてご負担ください。・参加費は、欠席されても原則としてお返しいたしかねますのでご了承ください。・申込書に記載いただいた情報は、本人確認、本セミナに関する連絡のほか、SESSAMEに関する各種ご案内のみに利用し、適切な管理を行うよう努めます。

SESSAME セミナープログラム　02月06日（金)
02/06	13:00～17:00	１．静的なテストを実行する基礎としてのソルバー入門　　　２．各種の形式的テストと実用事例　　　３．DARTの手法基礎と業界での実施例　　　４．DARTを深く知る、試行するためのソース紹介　　　５．テスト技術適用のための議論	東京大学大規模集積システム設計教育研究センター<br> 教授　藤田昌宏氏

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申し込み、問い合わせ先
　　　組込みソフトウェア管理者・技術者育成研究会　横井
　　　　〒103-0007　東京都中央区日本橋浜町1-8-12-8F
　　　　　　　　　　一般社団法人組込みシステム技術協会内
　　　　　　　　　　電話:(03)3865-1730/FAX:(03)3865-5616
　　　　　　　　　　e-mail：secretariat@sessame.jp
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To:secretariat@sessame.jp
Subject: 最新の組込みテスト技術セミナー（１）参加申込書

=== 最新の組込みテスト技術セミナー（１）参加申込書 ===

■会社
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■受講者
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■請求書の送付先
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■備考 (その他の希望などがあればお書きください)

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